Ekspert metrologii: Sztuczna inteligencja pomoże nam w pomiarach

EAttachments8999888336e2595ca88528e6c0e88c106fbb957 xl 1

O sztucznej inteligencji w metrologii rozmawiają uczestnicy Kongresu Gospodarczego „Metrologia Przyszłości”, który odbywa się w Lublinie.

– Wiele urządzeń laboratoryjnych już od wielu lat jest wyposażona w różne algorytmy, a rozwój sztucznej inteligencji tylko pomoże nam w pomiarach – mówi prezes klubu Polskich Laboratoriów Badawczych POLLAB, Andrzej Hantz. – Tutaj mamy pełne spektrum działań laboratoryjnych, np. po wykonaniu pomiarów, ocena zgodności wyników ze specyfikacjami. To jest obszar, który na pewno sztuczna inteligencja wspomoże. Podejmowanie szybkich i jednoznacznych decyzji. Ale również producenci szeroko rozumianej aparatury pomiarowej stosowanej w różnych laboratoriach te narzędzia sztucznej inteligencji będą stosować, będą wdrażać. A my jako użytkownicy będziemy się do nich dostosowywać i wykorzystywać.

Kongres odbywa się w Lubelskim Centrum Konferencyjnym.

RyK / opr. WM

Fot. Krzysztof Radzki 

Exit mobile version